Equipement ya inspection ya semiconducteur .

MPC Semiconductor Inspection Equipment ezali système ya kolongolama ya poussière sec directionnel entièrement automatique mpo na ba capteurs ya image ya CMOS. Ezali na caméra ya likolo-Resolution oyo ekoki koyeba matière étrangère ya particule ultrafine mpe ko guider mécanisme ya kokanga poussière mpo na kosala ba hautes-kolongola poussière directionnelle ya précision. Ekoki kolongola biloko ya bapaya oyo eleki 700nm na substrat/sensor. Masini ezali na module ya servo ya mbangu-vitesse. Ba stations unique/double ekoki koponama selon capacité ya production. Makoki ya bokeli ya likolo ezali monene koleka 5000pcs/h. Ekoki kobimisa ba rapports mpe kobimisa ba diagrammes ya carte. En même temps, ba données ekoki ko uploader na système MES ya client.

Détection et nettoyage partitique, détection ya DB .

● Semi-conducteur (Module optique, wafer) .

● Industrie ya emballage mpe ya test ya semiconducteur (sensor, filtre IR, test ya IC, module ya empreinte ya misapi)

Ba équipements ya inspection ya semiconducteur MPC ekoki kobongisa mingi efficacité ya production pe rendement, ko remplacer échantillonnage manuel traditionnel, pe ezali surtout approprié pona fabrication ya batch ya valeur ya likolo{0}}Ba produits oyo ebakisami. Soki ozali na mposa ya solution ya malamu koleka, s’il vous plaît consulter Huizhou Zhongke Advanced Manufacturing Co., Ltd.

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● Detection Accuracy: >0.6μm

● Floating Dust Removal Rate: >99.9%